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更新時(shí)間：2019-08-16 點(diǎn)擊次數(shù)：2969次
1、 壓縮實(shí)驗(yàn)
壓縮測(cè)試是對(duì)樣品整體進(jìn)行擠壓，在另外兩個(gè)方向上不受約束。FTC壓縮實(shí)驗(yàn)時(shí)探頭常選用大直徑的探頭，如平底圓柱或圓盤，用于使固體或自支撐樣品變形。重要的是，如果要保持真正的壓縮力，探頭的表面積需大于樣品的表面積。
2、 壓縮實(shí)驗(yàn)過程描述
探頭從起始位置開始，以*速度壓向測(cè)試樣品，接觸到樣品的表面后（常以觸發(fā)力來判定是否接觸到樣品）再以*的測(cè)試速度對(duì)樣品進(jìn)行*距離或形變量的壓縮，而后返回到壓縮的觸發(fā)點(diǎn)，然后再以*的測(cè)后速度返回到起始位置。
3、單次擠壓實(shí)驗(yàn)典型圖譜
單次擠壓實(shí)驗(yàn)應(yīng)用的范圍非常廣泛，單次擠壓實(shí)驗(yàn)的典型圖譜如下圖所示。
通過擠壓實(shí)驗(yàn)可以得到樣品的多項(xiàng)物性指標(biāo)，如硬度（hardness）、脆性（fracturability）、粘附性（stringiness）、粘附力（adhesiveness）、粘附力做功、恢復(fù)性等。
擠壓實(shí)驗(yàn)常見圖譜類型
